एपिटैक्सियल ग्रोथ के लिए 8-इंच TaC लेपित ग्रेफाइट डिस्क
हमारी 8-इंच TaC लेपित ग्रेफाइट डिस्क, सिंगल-वेफर क्षैतिज SIC एपिटैक्सियल रिएक्टरों के लिए एक महत्वपूर्ण घटक है, जिसे अगली पीढ़ी के 8-इंच SiC वेफर उत्पादन को सपोर्ट करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। ग्रेफाइट बेस और सघन TaC सुरक्षात्मक कोटिंग के साथ, यह उच्च तापमान वाले एपिटैक्सियल विकास के दौरान असाधारण तापीय एकरूपता, रासायनिक प्रतिरोध और संदूषण नियंत्रण प्रदान करता है। इसका सटीक गैस-फ्लोटिंग वेफर सपोर्ट डिज़ाइन कणों के निर्माण को न्यूनतम करता है, जबकि TaC बैरियर परत ग्रेफाइट को संक्षारक प्रक्रिया गैसों से बचाती है, जिससे वेफर की सतह की अखंडता और लंबे घटक जीवनकाल सुनिश्चित होता है।
विवरण
सेमीक्सलैब 8-इंच TaC लेपित ग्रेफाइट डिस्क एक महत्वपूर्ण घटक है जिसे विशेष रूप से सिंगल-वेफर क्षैतिज SiC एपिटेक्सी रिएक्टरों के लिए डिज़ाइन किया गया है। उच्च-शुद्धता वाले ग्रेफाइट सब्सट्रेट से निर्मित और टैंटलम कार्बाइड (TaC) की एक सघन परत से लेपित, यह डिस्क असाधारण तापीय स्थिरता, संक्षारण प्रतिरोध और कण दमन प्रदान करती है। यह दोषरहित SiC एपिटेक्सियल परतों को प्राप्त करने में महत्वपूर्ण भूमिका निभाती है, और अगली पीढ़ी के पावर सेमीकंडक्टर उपकरण निर्माण की सख्त आवश्यकताओं को पूरा करती है।
SiC एपिटैक्सी में भूमिकाएँ
एकल-वेफर क्षैतिज SiC एपिटैक्सियल रिएक्टर में, 8-इंच TaC लेपित ग्रेफाइट डिस्क एक मुख्य कार्यात्मक प्लेटफ़ॉर्म के रूप में कार्य करती है जो वेफर की गुणवत्ता, एपिटैक्सियल परत की एकरूपता और समग्र रिएक्टर स्थिरता को सीधे प्रभावित करती है। इसकी भूमिका को कई प्रमुख पहलुओं में विभाजित किया जा सकता है:
1. वेफर सपोर्ट और गैस-फ्लोटिंग सस्पेंशन
यह डिस्क 8-इंच SiC वेफर के लिए एक यांत्रिक और तापीय इंटरफ़ेस प्रदान करती है। एक सटीक रूप से डिज़ाइन की गई गैस-फ्लोटिंग प्रणाली के माध्यम से, H₂ जैसी प्रक्रिया गैसें डिस्क और वेफर के बीच प्रवाहित होती हैं, जिससे एक स्थिर निलंबन बनता है। यह गैर-संपर्क डिज़ाइन यांत्रिक तनाव को कम करता है और सूक्ष्म कणों के निर्माण को न्यूनतम करता है, जो दोष-संवेदनशील SiC उपकरणों के लिए महत्वपूर्ण कारक हैं।
2. ताप प्रबंधन और समान तापमान वितरण
SiC epitaxy requires extremely high growth temperatures (1500–1650 °C). The TaC-coated disc ensures even heat conduction across the wafer surface, suppressing hot spots and edge-cooling effects. By maintaining tight temperature uniformity (<±1–2 °C), the disc supports consistent epitaxial thickness and doping uniformity, which are crucial for high-performance SiC power devices.
3. रासायनिक प्रतिरोध और ग्रेफाइट संरक्षण
एपिटेक्सी के दौरान, संक्षारक गैसें जैसे HCl (एचिंग एजेंट) और हाइड्रोकार्बन पूर्ववर्ती (जैसे, प्रोपेन, सिलेन) प्रवेश करती हैं। TaC कोटिंग एक सघन, रासायनिक रूप से निष्क्रिय आवरण के रूप में कार्य करती है जो ग्रेफाइट आधार सामग्री की रक्षा करती है। इस कोटिंग के बिना, ग्रेफाइट धीरे-धीरे क्षीण होता जाएगा, जिससे कार्बन प्रजातियाँ कक्ष में मुक्त हो जाएँगी, जिससे सतह खुरदरी, संदूषित और उपज में कमी आएगी।
4. संदूषण नियंत्रण और दोष न्यूनीकरण
असुरक्षित ग्रेफाइट से कार्बन उत्सर्जन SiC एपिटेक्सी में संदूषण का एक बड़ा जोखिम है। TaC अवरोध कार्बन ऊर्ध्वपातन को रोकता है, जिससे रिएक्टर का वातावरण स्वच्छ रहता है। यह त्रिकोणीय दोषों, स्टैकिंग दोषों और माइक्रोपाइप जैसे एपिटैक्सियल दोषों को सीधे कम करता है, जिससे उपकरण-स्तरीय वेफर गुणवत्ता सुनिश्चित होती है।
5. प्रक्रिया स्थिरता और दीर्घकालिक विश्वसनीयता
यह डिस्क अत्यधिक उच्च तापमान पर बार-बार होने वाले तापीय चक्रण के तहत काम करती है। TaC का अति-उच्च गलनांक (~3880°C) और उत्कृष्ट तापीय आघात प्रतिरोध, बिना लेपित ग्रेफाइट की तुलना में इसकी सेवा जीवन को बढ़ाता है। लंबे परिचालन जीवन का अर्थ है कम डिस्क प्रतिस्थापन, जिससे रिएक्टर का अपटाइम बढ़ता है और सेमीकंडक्टर फ़ैब्स के लिए स्वामित्व की लागत कम होती है।
सेमीक्सलैब में, हम SiC एपिटैक्सी तकनीक की उन्नति में सहयोग के लिए डिज़ाइन किए गए सटीक इंजीनियरिंग वाले TaC लेपित ग्रेफाइट घटक प्रदान करते हैं। चाहे आप उच्च उत्पादकता चाहने वाले प्रोसेस इंजीनियर हों या विश्वसनीय आपूर्ति पर केंद्रित खरीद विशेषज्ञ, हमारे समाधान मांगलिक सेमीकंडक्टर वातावरण में सिद्ध प्रदर्शन प्रदान करते हैं। आपके आगे के परामर्श की प्रतीक्षा रहेगी।
विशेष विवरण
| TaC कोटिंग के भौतिक गुण | |
| घनत्व | 14.3 (ग्राम/सेमी³) |
| विशिष्ट उत्सर्जन | 0.3 |
| थर्मल विस्तार गुणांक | 6.3*10-6/K |
| कठोरता (एचके) | 2000 एच.के. |
| रेसिस्टेंस | 1 × 10-5 ओम*सेमी |
| तापीय स्थिरता | |
| ग्रेफाइट आकार में परिवर्तन | -10~-20um |
| परत की मोटाई | ≥20um विशिष्ट मान (35um±10um) |
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